时间:2008-11-09 | 栏目:技术资料 | 人参与讨论
4.质谱法
质谱法是精确测定物质分子量的一种方法,质谱测定的分子量给出的是分子质量m对电荷数Z之比,即质荷比(m/Z)过去的质谱难于测定高分子的分子量,但近20余年由于我的离子化技术的发展,使得质谱可用于测定分子量高达百万的高分子化合物。这些新的离子化技术包括场解吸技术(FD),快离子或原子轰击技术(FIB或FAB),基质辅助激光解吸技术(MALDI-TOF MS)和电喷雾离子化技术(ESI-MS)。由激光解吸电离技术和离子化飞行时间质谱相结合而构成的仪器称为“基质辅助激光解吸-离子化飞行时间质谱”(MALDI-TOF MS 激光质谱)可测量分子量分布比较窄的高分子的重均分子量(Mw)。由电喷雾电离技术和离子阱质谱相结合而构成的仪器称为“电喷雾离子阱质谱”(ESI-ITMS 电喷雾质谱)。可测量高分子的重均分子量(Mw)。
5.其他方法
测定高分子分子量的其他方法还有:端基测定法,沸点升高法,冰点降低法,膜渗透压法,蒸汽压渗透法,小角X-光散射法,小角中子散射法,超速离心沉降法等。
在上述方法中,所用仪器:乌式粘度计、激光光散射仪、凝胶渗透色谱仪、质谱仪等。
参考文献
1、“现代高分子物理学”(上册,P.126)殷敬华、莫志深主编,科学出版社,2001年
2、“高分子物理实验”(P.95)何平笙,杨海洋,朱平平,瞿保均编,中国科技大学出版社,2002年
3、“高分子物理”(P.317)杨玉良,胡汉杰主编,化工出版社,2001年